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培訓(xùn)服務(wù)
AS6081認(rèn)證檢驗員
| 培訓(xùn)順序安排 | 培訓(xùn)主題 | 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn) | 培訓(xùn)內(nèi)容 | 培訓(xùn) 時長 | 培訓(xùn)要求 | 培訓(xùn)證明 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| QC組建輔導(dǎo) | 1 | QC組建流程及要求 | 體系規(guī)范要求 | 實驗室對人、機(jī)、料、法、環(huán)的要求 | 3-5h | 明白ISO9001：2015流程 | 考試合格 發(fā)放證書 |
| 2 | 檢測認(rèn)證流程詳解 | 樣品檢測流程及產(chǎn)生的記錄 | 3-5h | 要求了解檢測過程及數(shù)據(jù)來源 | |||
| 3 | 體系認(rèn)證流程及標(biāo)準(zhǔn) | AS9120、ISO9001、AS9100 | 1-2天 | 明白體系的區(qū)別 | |||
| 4 | 指導(dǎo)文件及記錄的編寫 | 質(zhì)量手冊、程序文件、指導(dǎo)書、表單 | 1-2周 | 了解體系文件的作用，會編寫文件 | 體系文件 | ||
| 認(rèn)證檢查員1 （視覺檢查） | 1 | 了解全球電子產(chǎn)品供應(yīng)鏈以及假冒產(chǎn)品如何進(jìn)入供應(yīng)鏈 | / | 芯片封裝流程、交易模式 | 1.5h | 了解假冒產(chǎn)品進(jìn)入供應(yīng)鏈流程 | 考試合格發(fā)放證書 |
| 2 | 制定和實施記錄的假冒緩解計劃 | AS6171/2A-2017 | Method A: General EVl, Sample Selection, and Handling 方法A：一般EVl，樣品選擇和處理 | 2h | 學(xué)習(xí)掌握外觀測試方法 | ||
| 電子零件的假冒檢驗和測試：試驗方法概述 | Method E: Part Dimension Measurement 方法E：零件尺寸測量 | ||||||
| 認(rèn)證檢驗員2（視覺檢查、表面分析、x射線、分解和XRF) | 1 | 完成檢驗員1的 所有要求 | / | 芯片封裝流程、交易模式 | 2-3h | 學(xué)習(xí)掌握外觀測試方法 | 考試合格發(fā)放證書 |
| 2 | AS6171/2A-2017 | Method A: General EVl, Sample Selection, and Handling 方法A：一般EVl，樣品選擇和處理 | 2-3h | ||||
Method B: Detailed EVl 方法B：詳細(xì)EVl | |||||||
Method E: Part Dimension Measurement 方法E：零件尺寸測量 | |||||||
| 方法A、B、E實操 | 8h | ||||||
| 3 | 電子零件的假冒檢驗和測試：表面測試和驗收或拒收標(biāo)準(zhǔn) | AS6171/2A-2017 | Method C: Testing for Remarking 方法C：丙酮檢測 | 2.5h | 學(xué)習(xí)掌握丙酮測試方法 | ||
Method D: Testing for Resurfacing 方法D：熱化學(xué)試驗 | 學(xué)習(xí)了解熱化學(xué)測試方法 | ||||||
Method F: Surface Texture Analysis Using SEM 方法F：用掃描電鏡或200X-400X光學(xué)顯微鏡分析表面紋理 | 學(xué)習(xí)了解掃描電鏡 | ||||||
| 方法C、D、F實操 | 3h | ||||||
| 4 | 電子零件的假冒檢驗和測試：XRF、開蓋、射線照相和驗收或拒絕標(biāo)準(zhǔn) | AS6171/3-2022 | XRF標(biāo)準(zhǔn)要求理論講解 | 1h | 學(xué)習(xí)含鉛測試方法并實操 | ||
| XRF實操 | 2h | ||||||
| 5 | AS6171/4-2016 | 開蓋標(biāo)準(zhǔn)要求理論講解 | 1h | 學(xué)習(xí)開蓋測試方法并實操 | |||
| 開蓋標(biāo)準(zhǔn)實操 | 2h | ||||||
| 6 | AS6171/5-2022 | X射線照相標(biāo)準(zhǔn)要求理論講解 | 1h | 學(xué)習(xí)X射線測試方法并實操 | |||
| X射線照相實操 | 2h | ||||||
